# IGZO Nöromorfik Sistemler: Kanıt ve Malzeme Teknik Raporu

Sürüm 3.1 · 12 Ekim 2026 · IGZO Evidence Atlas

## Kapsam ve kanıt ilkesi

Bu rapor, yüklenen proje dosyalarındaki malzeme, cihaz ve dizi iddialarını akademik kaynaklarla karşılaştıran bir araştırma notudur. Yeni bir cihaz ölçümü sunmaz. Hakemli deney, devre/ağ simülasyonu, patent iddiası ve proje hedefi ayrı tutulur. Örnek performans sayıları farklı cihazlardan tek bir sanal sisteme taşınamaz.

## 1. Malzeme ve fizik

Amorf In–Ga–Zn–O (IGZO) bileşiminde malzeme hazırlama yöntemi, oksijen kimyası, elektrot arayüzü, film kalınlığı ve termal geçmiş anahtarlama davranışını etkileyebilir. Elektriksel anahtarlama mekanizması yalnızca I–V eğrisine bakılarak kesinleştirilmemelidir. Cihaz yığını, elektrotlar, mikroskopi/kimyasal karakterizasyon ve kontrol örnekleri birlikte raporlanmalıdır. Martins ve arkadaşları çözeltiden üretilmiş IGZO cihazlarında belirli koşullarda sekiz durum ve 10^5 saniyeye kadar tutma bildirmiştir [1]. Bu değer farklı proses veya mimari için garanti değildir.

Naqi ve arkadaşlarının 10×10 IGZO dizisi cihaz ve dizi düzeyinde birincil örnektir [2]. Makaledeki yaklaşık 500 çevrim ve >10^4 saniye tutma ile CNN/SNN oranlarının kanıt türleri aynı değildir: tanıma oranları ölçümle ilişkilendirilmiş modelleme/simülasyon bağlamındadır. Bunlar, yüklenen projenin sensörden aktüatöre tamamlanmış donanım çıkarımı anlamına gelmez.

## 2. Ölçüm sözlüğü

- **Durum penceresi:** G_high/G_low tek başına yeterli değildir. Her durumun dağılımı ve komşu durumlarla örtüşmesi gerekir.
- **Retention:** Okuma gerilimi, sıcaklık, zaman örnekleri, kabul toleransı ve hızlandırılmış testten saha koşuluna geçiş modeli belirtilir.
- **Endurance:** SET/RESET çevriminin tanımı, başarısızlık kuralı ve seçilim yanlılığı belirtilir. Sadece yaşayan hücrelerin medyanı yeterli değildir.
- **Varyasyon:** Hücre içi, hücreler arası, satır/sütun, wafer ve parti düzeyi ayrılır. Parti içindeki bin hücre, bin bağımsız parti değildir.
- **Yield:** Fonksiyonel hücre, kullanılabilir dizi ve kalibre edilmiş sistem verimi ayrı raporlanır.
- **Enerji:** Yazma için E_write = ∫ V(t)I(t)dt; başarılı programlamaya kadar geçen tüm darbeler, doğrulama okumaları ve tekrarlar dahil edilir.

Ölçüm cihazı bant genişliği, prob bağlantıları, compliance ayarı, termal koşullar, rastgele örnekleme ve ham veri saklama planı ön kayda alınmalıdır. JCGM/NIST belirsizlik yaklaşımı tekrar edilebilir birim ve belirsizlik hesabı için metodolojik dayanak sağlar [3].

## 3. Üretim ve kabul kapısı

Senaryo A hazır cihaz tedarikidir. B1 kurum içi film/elektrot/desenleme üretimi, B2 ise dış üretim ve bağımsız iç kabuldür. Üç yolun aynı kabul şablonunu kullanması gerekir: yığın ve geometri, proses sürümü, I–V ham eğrileri, SET/RESET dağılımı, okuma gürültüsü, retention, endurance, read disturb, parti verimi, red sayısı. 32×32 diziye geçiş, önceden belirlenen durum ayrımı ve hata bütçesi sağlandığında yapılmalıdır. 64×64 ölçekleme otomatik bir sonraki adım değildir.

## 4. İddia düzeltme kaydı

Yüklenen taslaklardaki <1 ms, <1 W, 300× ve 10^6 çevrim ifadeleri bu projeye ait doğrulanmış ham ölçümle desteklenmez. Projede hedef veya hipotez olarak kalabilirler. HfO₂/CMOS 3T1R devresine ait %82 SET ve %54 READ enerji karşılaştırması IGZO malzeme verisi değildir [4]. EP 3 588 594 B1 belirli yapıya ilişkin patenttir; evrensel “write-once” güvenliği kanıtlamaz [5]. Gizlilik sözleşmesi içerikleri ve taraf bilgileri açık yayına aktarılmamıştır.

## 5. Yayın için asgari veri paketi

Numune/parti kimlikleri, proses sürümü, maske ve geometri, kalibre cihaz metaverisi, tüm ham I–V ve darbe izleri, başarısız örnekler, önceden belirlenmiş dışlama kuralları, analiz kodu ve bağımsız tekrar talimatı saklanmalıdır. Grafikler veri kaynağı ve örnekleme sayısı olmadan sonuç kabul edilmemelidir. Sitedeki tüm 3D görseller kavramsal illüstrasyondur.

## Kaynaklar

1. Martins ve ark., *Journal of Materials Chemistry C* (2022), https://doi.org/10.1039/D1TC05465A
2. Naqi ve ark., *Materials Today Nano* 25, 100441 (2024), https://doi.org/10.1016/j.mtnano.2023.100441
3. NIST Measurement Uncertainty, https://www.nist.gov/itl/sed/topic-areas/measurement-uncertainty
4. Das ve ark., ön baskı (2023), https://arxiv.org/abs/2305.16418
5. EP3588594B1, https://patents.google.com/patent/EP3588594B1/en

## Portföy 1–2 ek denetimi (v3.1)

İki PDF portföyündeki 13 gömülü dosyada tekil sunumlar ile derleme ciltler tekrarlanır. Tekrarlar bağımsız ölçüm değildir. Patent ve makale taslağındaki 10^6 çevrim ifadesi proje cihazının ölçümü olarak kullanılamaz. Bununla birlikte Wang ve arkadaşları farklı bir Pt/IGZO/SiNₓ/Ta aygıtında 1 kb dizi, >10^6 çevrim ve >10^6 s tutma bildirmiştir. Cihaz yığını ve test koşulları eşitlenmeden sonuçlar aktarılmaz. Kaynak: https://www.nature.com/articles/s41467-026-72740-x